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概述:
該設(shè)備可模擬由陽光紫外線、露水及雨淋對材料所造成的破壞,性能指標(biāo)符GB/T5170.9《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的要求。KD-P紫外光耐氣候試驗(yàn)機(jī)用數(shù)天或數(shù)周的測試,即可重現(xiàn)戶外數(shù)月至數(shù)年出現(xiàn)的危害。危害類型包括:褪色、變色、失光粉化、裂紋、渾濁、泡化、脆化、強(qiáng)度衰退和氧化。該設(shè)備的數(shù)據(jù)可以幫助您選擇新材料,改進(jìn)現(xiàn)有材料,以及評價(jià)配方的變化如何影響產(chǎn)品的耐久性。在材料置于戶外時(shí)的變化趨勢上,可以測出相關(guān)預(yù)測結(jié)果。
技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:RT+10℃~70℃
2、濕度范圍:≥90%R.H
3、溫度均勻度:≤±2℃
4、溫度波動度:≤±0.5℃
5、濕度均勻度:≤±2%R.H
6、黑板溫度:40℃~65℃
7、紫外光耐氣候試驗(yàn)機(jī)燈管距離:35mm
8、樣品與燈管距離:50mm
9、燈管功率:40W/支
10、輻照度范圍:<50W/㎡
11、紫外波長:280nm~400nm
12、支持樣板:150mm×75mm
13、樣板數(shù)量:約40塊
14、時(shí)間設(shè)定范圍:0~9999h
15、模擬紫外光暴露、凝露時(shí)間可調(diào)
16、電源電壓:AC380V/50HZ
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